4 ECTS credits
120 u studietijd

Aanbieding 1 met studiegidsnummer 4023294ENR voor alle studenten in het 2e semester met een verdiepend master niveau.

Semester
2e semester
Inschrijving onder examencontract
Niet mogelijk
Beoordelingsvoet
Beoordeling (0 tot 20)
2e zittijd mogelijk
Ja
Onderwijstaal
Engels
Onder samenwerkingsakkoord
Onder interuniversitair akkoord mbt. opleiding
Faculteit
Faculteit Wetenschappen en Bio-ingenieurswetensch.
Verantwoordelijke vakgroep
Faculteit Wetenschappen en Bio-ingenieurswetensch.
Externe partnerinstelling(en)
Universiteit Gent
Onderwijsteam
Decaan WE (titularis)
Onderdelen en contacturen
0 contacturen Exam
22 contacturen Lecture
15 contacturen Practical exercises
Inhoud

Structure determination by X-ray diffraction and structure solving/refining is the main goal of this course. A practical oriented course will be provided in which students learn how to understand, evaluate and extract all possible structural information from a diffraction pattern. Indexation, crystal parameters, powder diffraction, quantitative analysis, single crystal X-ray diffraction and texture analysis of thin films will be covered.

 

Contents

 

1 Powder diffraction

1 • data collection

1 • • Sample preparation

1 • • Diffractometer settings

1 • Structure refinement from powder diffraction

1 • • Indexing

1 • • cell parameters

1 • • qualitative and quantitative analysis

1 • Refinement

 

2 Advanced X-ray techniques: pair-distribution function, GISAXS, WAXS, SAXS

 

3 Single crystal X-ray diffraction

1 • Crystallization procedures

1• Theory and practice

1 • Data collection and processing

1 • Crystallography of small molecules

1 • • Direct methods

1 • • Patterson

1 • • Absolute configuration

1 • Crystallography of (bio)macromolecules

1 • • The phase problem

1 • • Molecular replacement

1 • • Anomalous scattering

   • Structure refinement and model building

1 • Structural databases

1 • • CSD, PDB/NDB

1 • • Structure validation

 

4 Texture analysis of thin films

  • Introduction on the importance of thin layers
  • Definitions related to X-ray diffraction of thin layers

1 • • Texture

1 • • Epitaxy

1 • • Substrate

1 • • Roughness

1 • • Micro structure

  • X-ray diffractiontechniques

• • Bragg-Brentano

   • rocking curves

   • glancing angle

   • grazing incidence

1 • • texture analysis (Pole figures)

  • X-ray reflectometry/GISAXS
  •  

1 • • EBSD

     • RHEED

     • LEED

  • X-ray diffraction for stressanalysis
Bijkomende info

Students have a background in mathematics for chemists, basic physics, structural analysis. and materials chemistry

he slides will be posted via Minerva + references to English handbooks

Leerresultaten

general competencies

The students must be able to analyze in detail and discuss an X-ray diffraction pattern -

manually and using databases and software packages

Beoordelingsinformatie

De beoordeling bestaat uit volgende opdrachtcategorieën:
Examen Andere bepaalt 100% van het eindcijfer

Binnen de categorie Examen Andere dient men volgende opdrachten af te werken:

  • exam met een wegingsfactor 100 en aldus 100% van het totale eindcijfer.

Aanvullende info mbt evaluatie

Periodic evaluation (80%) + permanent evaluation (20%)

Toegestane onvoldoende
Kijk in het aanvullend OER van je faculteit na of een toegestane onvoldoende mogelijk is voor dit opleidingsonderdeel.

Academische context

Deze aanbieding maakt deel uit van de volgende studieplannen:
Master of Chemistry: Analytical and Environmental Chemistry (enkel aangeboden in het Engels)