4 ECTS credits
110 u studietijd

Aanbieding 1 met studiegidsnummer 4019830ENR voor alle studenten in het 2e semester met een verdiepend master niveau.

Semester
2e semester
Inschrijving onder examencontract
Niet mogelijk
Beoordelingsvoet
Beoordeling (0 tot 20)
2e zittijd mogelijk
Ja
Onderwijstaal
Nederlands
Faculteit
Faculteit Ingenieurswetenschappen
Verantwoordelijke vakgroep
Elektriciteit
Onderwijsteam
John Lataire (titularis)
Onderdelen en contacturen
24 contacturen Hoorcollege
24 contacturen Werkcolleges, practica en oefeningen
Inhoud

Ingenieurs gebruiken wiskundige modellen om de omringende wereld te begrijpen en te manipuleren. Deze modellen worden getoetst aan de werkelijkheid door middel van metingen. Elke meting bevat fouten. In deze cursus wordt er nagegaan hoe men goede metingen kan maken, en vervolgens hoe men uit metingen wiskundige modellen kan extraheren. Hierbij wordt er in elke stap aandacht gegeven om de grootte en de invloed van (meet)fouten in te schatten.


Voor meer details: zie Engelstalige studiedeelfiche 009085 en raadpleeg het faculteitssecretariaat.

Studiemateriaal
Cursustekst (Vereist) : An introduction to system identification, Schoukens, VUB, 2220170000909, 2015
Bijkomende info

De lessen worden in het Engels gegeven indien er anderstalige studenten ingeschreven zijn. De studenten kunnen echter hun vragen in het Nederlands stellen, en het examen wordt in het Nederlands afgenomen voor Nederlandstalige studenten. Cursusnota's verkrijgbaar bij de VUB.



- gebruikte literatuur:



- Standaardwerken over identificatie worden aan de studenten vermeld en zijn beschikbaar in de bibliotheek ;

- de te kennen leerstof is samengebracht in engelstalige cursusnota's bij dienst uitgaven of ter beschikking gesteld door de titularis.



Referentiewerken :



P. Eykhoff, System Identification, London, John Wiley and Sons, 1974.

G.C. Goodwin and R.L. Payne, Dynamic System Identification. New York, Academic Press, 977.

L. Ljung, System Idnetification : theory for the user. Englewood Cliffs, Prentice-Hall, 1987.

J. Schoukens and R. Pintelon, Identification of Linear Systems : A practical guideline for acuurate modeling. London, Pergamon Press 1991.

T. Soderstrom and P. Stoica, System Identification, Englewood Cliffs, Prentice-Hall, 1998.

The Fast Fourier Transform ( Oran E Brigham - Addison Wesley )

System Identification. A frequency domain approach. Pintelon and Schoukens. IEEE press, John Wiley, 2001.

Solving interference problems in electronics ( Morrisson  - Wiley )

+ IEEE 488.2 Standard. (IEEE Press)

Schoukens, Pintelon and Rolain: Mastering system identification in 100 exercises.

Leerresultaten

Algemene competenties

-doelstellingen en eindtermen:

Nederlandstalige versie in opbouw. Voor meer gedetailleerde informatie gelieve de studiedeelfiche van het equivalente Engelstalige studiedeel ID009085 te raadplegen of luw faculteitssecretariaat te contacteren.

 

Beoordelingsinformatie

De beoordeling bestaat uit volgende opdrachtcategorieën:
Examen Mondeling bepaalt 100% van het eindcijfer

Binnen de categorie Examen Mondeling dient men volgende opdrachten af te werken:

  • theo + labo Modelleren & Meten met een wegingsfactor 1 en aldus 100% van het totale eindcijfer.

    Toelichting: - gesloten boek, mondeling examen ;
    - klemtoon op begrijpen van de leerstof, reproduceren is niet genoeg.

    Puntenverdeling
    Theorie modelleren 4/15
    Theorie meten 6/25
    Labo modelleren 2/15
    Labo meten 9/25

    Al de proeven worden afgenomen op een halve dag. Afwezigheid op een of meer van de proeven resulteert in een afwezigheid voor het opleidingsonderdeel.

Aanvullende info mbt evaluatie

mondeling examen over theorie en labo
klemtoon op begrijpen van de leerstof, reproduceren is niet voldoende
 

Toegestane onvoldoende
Kijk in het aanvullend OER van je faculteit na of een toegestane onvoldoende mogelijk is voor dit opleidingsonderdeel.

Academische context

Deze aanbieding maakt deel uit van de volgende studieplannen:
Master in de ingenieurswetenschappen: chemie en materialen: profiel procestechnologie
Master in de ingenieurswetenschappen: chemie en materialen: profiel materialen
Master in de ingenieurswetenschappen: elektronica en informatietechnologie: Standaard traject